技術文章
當前位置:
主頁 >
技術文章 > NTC熱敏電阻測試和檢驗設備
NTC熱敏電阻測試和檢驗設備
更新時間:2021-10-18 點擊次數(shù):1954
NTC熱敏電阻也稱水滴型熱敏電阻、珠狀熱敏電阻,采用環(huán)氧樹脂封裝,是應用范圍廣也是普遍的NTC熱敏電阻,廣泛應用于溫度檢測,測量,檢測,指示器,監(jiān)測,測量,控制,校準和補償?shù)龋m用于暖通空調(diào)和白色家電,汽車,電池組應用。那么,NTC熱敏電阻測試依據(jù)和需要用的檢驗設備有哪些呢?這些都要探討的。
一、NTC熱敏電阻測試產(chǎn)品
1. 溫度傳感器;
2. 涌流限流器;
3. NTC傳感器;
4. NTC浪涌保護器。
二、NTC熱敏電阻測試依據(jù)標準
美國:UL 1434;
EN/IEC:IEC 60539-1、IEC 60539-2、EN 60539-1、EN 60539-2;
中國:GB/T 6663.1。
三、NTC熱敏電阻測試檢測項目
電氣性能
1. NTC零負荷電阻值;
2. B常數(shù);
3. 熱輻射常數(shù);
4. 熱時間常數(shù):;
5. 耐電壓;
6. NTC額定功率。
機械性能
1. 端子拉伸;
2. 端子彎曲;
3. 熱敏傳感器抗振性;
4. 熱敏電阻耐沖擊性;
5. 焊接性;
6. 焊接耐熱性;
7. 落地測試。
耐氣候性
1. NTC傳感器耐寒性;
2. NTC探頭耐熱性;
3. 溫度探頭溫度循環(huán);
4. 感溫探頭冷熱沖擊;
5. 耐濕性;
6. NTC高溫負荷。
四、NTC熱敏電阻檢驗設備
|
|
名稱:NTC高/低溫度沖擊箱 功能:測試MF52熱敏電阻承受高/低溫度沖擊箱 | 名稱:熱敏電阻恒溫恒濕室 功能:測試MF52D-103F3435NTC存儲的穩(wěn)態(tài)濕熱下 |
| |
名稱:NTC振動試驗設備 功能:試驗MF52D-103F3950熱敏電阻的影響在運輸過程中產(chǎn)生的振動頻率和振幅 | 名稱:NTC溫度傳感器鹽霧試驗機 功能:測試MF52D-103F3380熱敏電阻的耐氧化,耐腐蝕 |
| |
名稱:NTC熱敏電阻激光粒度分析儀 功能:分析激光粒度材料 | 名稱:NTC熱敏電阻真空高溫干燥箱 功能:高溫老化試驗測試 |
| |
名稱:NTC熱敏電阻頻譜分析儀 功能:分析MF52D-104F3950溫度傳感器的有害物質含量 | 名稱:NTC溫度傳感器電解測厚儀 功能:用于原材料檢測涂層厚度 |
| |
名稱:NTC熱敏電阻恒溫油浴裝置 功能:測試環(huán)境溫度在恒定的指向性(耐±0.002℃) | 名稱:NTC熱敏電阻低溫精密試驗水槽 功能:測試溫度恒定在70點阻力℃~ 0℃(耐±0.01℃) |
| |
名稱:NTC熱敏電阻直流恒壓恒流電源(大電流) 功能:測試U-I曲線 | 名稱:高精度熱敏電阻分選儀 功能:2.252K熱敏電阻測試電阻 |
| |
名稱:NTC熱敏電阻耗散和熱時間常數(shù)測試儀 功能:測試功耗和熱時間常數(shù)10K3977 | 名稱:NTC熱敏電阻溫度沖擊試驗機 功能:測試脈沖電容產(chǎn)品可以忍受 |
| |
名稱:NTC熱敏電阻耐壓測試儀 功能:絕緣耐壓試驗 | 名稱:NTC熱敏電阻直流穩(wěn)壓電源 功能:測試額定消耗功率10K3935 |
|
|
名稱:NTC熱敏電阻投影機 功能:測試MF52D-104F4100溫度傳感器的外觀和內(nèi)部結構 | 名稱:NTC熱敏電阻延伸率儀 功能:測試伸長率引線 |
| 名稱:NTC溫度傳感器老化階段 功能:MF52B-103F3435熱敏電阻可靠性測試老化 |
五、關鍵電子元器件性能及壽命檢測設備
Delta德爾塔儀器專業(yè)致力于關鍵電子元器件性能及壽命檢測設備的研發(fā)和制造,系列產(chǎn)品應用于各種插頭電源線、電線組件、互連電線組件,器具輸入插座、器具輸出插座、器具插座,電容器(X電容器、Y電容器),隔離電阻器(跨線電阻),變壓器/開關電源用變壓器,光電耦合器, 電源開關、繼電器, 熔斷器、熱熔斷體、熔斷電阻器,電位器、定時器、溫控器、限溫器、熱保護器、電控制器,水位開關,旋轉開關,傳感器,印制線路板,壓敏電阻,電動機, 熱敏電阻器等進行機械強度測試,額定電壓測試,額定電流測試,分斷容量測試,負載特性測試,發(fā)熱(溫升)測試,正常操作測試,壽命可靠性測試,機械耐久性測試等試驗項目。
提供電子元器件的檢測提供整套測試儀器,可以為各類電子、電器制造廠商提供一下檢驗測試項目的專業(yè)儀器設備:集成電路測試:成品測試、老化篩選、失效分析等;破壞性物理分析:外部目檢、X射線檢查、粒子噪聲(PIND)試驗、密封性試驗、內(nèi)部氣體成分分析、內(nèi)部目檢、內(nèi)引線鍵合強度、掃描電鏡、芯片剪切強度;可靠性壽命和老化篩選:老化篩選試驗、穩(wěn)態(tài)壽命試驗、加速壽命試驗、可靠性強化試驗;環(huán)境試驗:正弦振動、隨機振動、機械沖擊、碰撞(或連續(xù)沖擊)、恒定加速度、跌落、出點動態(tài)監(jiān)測、溫度-振動-濕熱三應力試驗、高低溫低氣壓、溫度循環(huán)、熱沖擊、耐濕、高壓蒸煮、鹽霧或循環(huán)鹽霧、霉菌、淋雨、氣體腐蝕、沙塵、熱真空、強加速穩(wěn)態(tài)濕熱(HAST);物理性試驗:物理尺寸、耐溶劑性、引出端強度、可焊性、耐焊接熱、封蓋扭矩、鍍層厚度、阻燃性試驗。